遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法

• 資料種別: 記事
• タイトル: 遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法
• 著者・編者: 加藤 健太郎; 難波 一輝; 伊藤 秀男
• シリーズタイトル: VLSI設計技術
• 著者標目: 加藤 健太郎; 難波 一輝; 伊藤 秀男
• 並列タイトル等: Stuck-at test data compression using scan FFs with delay fault testability
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 107(334) 2007.11.20
• 掲載巻: 107
• 掲載号: 334
• 掲載ページ: 1～6
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2007-11-20
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 遅延故障テスト容易化FF; スキャンベクトル長圧縮法; テストデータ量削減; 1回スキャンイン操作; 2回スキャンイン操作; FFs with delay fault testability; scan vector length compression; one step scan-in operation; two step scan-in operation
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: VLD2007-70
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 9290851; http://id.ndl.go.jp/bib/9290851
• 整理区分コード: 632