国立国会図書館サーチ(NDL SEARCH)
検索を開く
メニューを開く
雑誌
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号
107(325)-107(334) 20071100-20071100
記事
遅延故障テスト容易化...
遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法 (VLSI設計技術)
記事を表すアイコン
遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法
(VLSI設計技術)
国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
9290851
資料種別
記事
著者
加藤 健太郎ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2007-11-20
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107(334) 2007.11.20
掲載ページ
p.1~6
すべて見る
書誌情報
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。
書誌情報を出力
紙
資料種別
記事
タイトル
遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法
著者・編者
加藤 健太郎
難波 一輝
伊藤 秀男
シリーズタイトル
VLSI設計技術
著者標目
加藤 健太郎
難波 一輝
伊藤 秀男
並列タイトル等
Stuck-at test data compression using scan FFs with delay fault testability
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
107(334) 2007.11.20
掲載巻
107
掲載号
334
掲載ページ
1~6
掲載年月日(W3CDTF)
2007-11-20
ISSN(掲載誌)
0913-5685
ISSN-L(掲載誌)
0913-5685
出版事項(掲載誌)
東京 : 電子情報通信学会
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
遅延故障テスト容易化FF
スキャンベクトル長圧縮法
テストデータ量削減
1回スキャンイン操作
2回スキャンイン操作
FFs with delay fault testability
scan vector length compression
one step scan-in operation
two step scan-in operation
NDLC
ZN33
対象利用者
一般
レポート番号(雑誌記事)
VLD2007-70
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Z16-940
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
9290851
http://id.ndl.go.jp/bib/9290851
整理区分コード
632
もっと見る