遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法 (VLSI設計技術)

Icons representing 記事

遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法

(VLSI設計技術)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
9290851
Material type
記事
Author
加藤 健太郎ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2007-11-20
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107(334) 2007.11.20
Publication Page
p.1~6
View All

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper

Material Type
記事
Author/Editor
加藤 健太郎
難波 一輝
伊藤 秀男
Series Title
Alternative Title
Stuck-at test data compression using scan FFs with delay fault testability
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
107(334) 2007.11.20
Volume
107
Issue
334