光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリに対する不良耐性解析

• 資料種別: 記事
• タイトル: 光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリに対する不良耐性解析
• 著者・編者: 篠原 功次; 渡邊 実
• シリーズタイトル: VLSI設計技術
• 著者標目: 篠原 功次; 渡邊 実
• 並列タイトル等: Fault tolerance analysis for holographic memories in optically reconfigurable gate arrays
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 107(415) 2008.1.17
• 掲載巻: 107
• 掲載号: 415
• 掲載ページ: 53～57
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2008-01-17
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 光再構成型ゲートアレイ; FPGA; ホログラムメモリ; 液晶; インパルスノイズ; ガウスノイズ; Optically reconfigurable gate array; holographic memory; Liquid crystal; Impulse noise; Gauss noise
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: VLD2007-127
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 9377456; http://id.ndl.go.jp/bib/9377456
• 整理区分コード: 632