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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
Volume number107(415)-107(421) 20080100-20080100
Article光再構成型ゲートアレ...

光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリに対する不良耐性解析 (VLSI設計技術)

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光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリに対する不良耐性解析

(VLSI設計技術)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
9377456
Material type
記事
Author
篠原 功次ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2008-01-17
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107(415) 2008.1.17
Publication Page
p.53～57
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Title
光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリに対する不良耐性解析
Author/Editor
篠原 功次
渡邊 実
Series Title
VLSI設計技術
Author Heading
篠原 功次
渡邊 実
Alternative Title
Fault tolerance analysis for holographic memories in optically reconfigurable gate arrays
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
107(415) 2008.1.17
Volume
107
Issue
415