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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- Alexander E. Braun
- 並列タイトル等
- CD metrology confidently looks beyond 32 nm
- タイトル（掲載誌）
- Semiconductor international. 日本版
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 5(8) 2008.8
- 掲載巻
- 5
- 掲載号
- 8
- 掲載ページ
- 16～21