先端デバイスの故障メカニズムと寿命分布(特集信頼性・保全性・安全性の事例--信頼性ハンドブック出版から10年を経て(材料・部品・デバイス編))

掲載誌名: 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌 30(8) (通号 172) 2008.11

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資料種別: 記事
タイトル: 先端デバイスの故障メカニズムと寿命分布
著者・編者: 横川慎二
シリーズタイトル: 特集信頼性・保全性・安全性の事例--信頼性ハンドブック出版から10年を経て(材料・部品・デバイス編)
著者標目: 横川慎二
並列タイトル等: Failure mechanisms and lifetime distributions of advanced devices
タイトル（掲載誌）: 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌
巻号年月日等（掲載誌）: 30(8) (通号 172) 2008.11
掲載巻: 30
掲載号: 8
掲載通号: 172
掲載ページ: 644～651
掲載年月日（W3CDTF）: 2008-11
ISSN（掲載誌）: 0919-2697
ISSN-L（掲載誌）: 0919-2697
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本信頼性学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZM1
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z14-2023
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 9723907
http://id.ndl.go.jp/bib/9723907
整理区分コード: 632