同位体分離器による基礎的データ-1-固体表面のイオン衝撃による二次電子放出率とイオン自己反射率の測定 固体内反跳イオン研究のモデル的方法

• 資料種別: 記事
• タイトル: 同位体分離器による基礎的データ-1-固体表面のイオン衝撃による二次電子放出率とイオン自己反射率の測定 固体内反跳イオン研究のモデル的方法
• 著者・編者: 荒谷 美智
• 著者標目: 荒谷 美智
• タイトル（掲載誌）: 質量分析
• 巻号年月日等（掲載誌）: 18(3) 1970.09
• 掲載巻: 18
• 掲載号: 3
• 掲載ページ: 1169～1176
• 掲載年月日（W3CDTF）: 1970-09
• ISSN（掲載誌）: 0542-8645
• ISSN-L（掲載誌）: 0542-8645
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本質量分析学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZP4
• 対象利用者: 一般
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（障害者向け資料：レベル2）: プレーンテキスト
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-213
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/2287041; https://dl.ndl.go.jp/pid/2287041
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 8235965; http://id.ndl.go.jp/bib/8235965
• 整理区分コード: 632

• 要約等: Measurements were made of emission of secondary electrons and self-reflection of ions from the targets bombarded with 10-25kV accelerated ion beams av...