Reliable Logic Circuits with Byte Error Control Codes -- a Feasibility Study

出版者: Proceedings of 1996 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

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資料種別: 図書
タイトル: Reliable Logic Circuits with Byte Error Control Codes -- a Feasibility Study
著者・編者: 北神, 正人
Kitakami, Masato
著者標目: 北神, 正人
Kitakami, Masato
出版事項: Proceedings of 1996 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
出版年月日等: 1996
出版年（W3CDTF）: 1996
タイトル（掲載誌）: Proceedings of 1996 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
掲載ページ: 286-294
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
一般注記: identifier:oai:t2r2.star.titech.ac.jp:00024377
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 東京工業大学 : 東京工業大学リサーチリポジトリ