高LET重イオン線によるDNA損傷に対するNBS1の応答

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 高LET重イオン線によるDNA損傷に対するNBS1の応答
• 著者・編者: 冨田, 雅典; 松本, 義久; 青木, 瑞穂; 矢野, 安重; 酒井, 一夫; 細井, 義夫; 小松, 賢志; 田内, 広; 松本 義久; 青木 瑞穂; 矢野 安重; 酒井 一夫; 細井 義夫; 田内 広
• 著者標目: 冨田, 雅典; 松本, 義久; 青木, 瑞穂; 矢野, 安重; 酒井, 一夫; 細井, 義夫; 小松, 賢志; 田内, 広; 松本 義久; 青木 瑞穂; 矢野 安重; 酒井 一夫; 細井 義夫; 田内 広
• 出版年月日等: 2005-11-17
• 出版年（W3CDTF）: 2005-11-17
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 日本放射線影響学会第４８回大会
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• 要約等: 高LET重イオン線は、飛跡に沿って複数のDNA切断を伴う重篤なクラスターDNA損傷(CCD)を生じる。CCD内に生じたDNA２本鎖切断(DSB)は修復困難であり、Ｘ線などの低LET放射線に比べ、高い細胞致死効果をもたらす要因と考えられている。しかしながら、DSB修復タンパク質の応答について必ずしも明...