高LET重イオン線によるDNA損傷に対するNBS1の応答

• Material Type: 文書・図像類
• Title: 高LET重イオン線によるDNA損傷に対するNBS1の応答
• Author/Editor: 冨田, 雅典; 松本, 義久; 青木, 瑞穂; 矢野, 安重; 酒井, 一夫; 細井, 義夫; 小松, 賢志; 田内, 広; 松本 義久; 青木 瑞穂; 矢野 安重; 酒井 一夫; 細井 義夫; 田内 広
• Author Heading: 冨田, 雅典; 松本, 義久; 青木, 瑞穂; 矢野, 安重; 酒井, 一夫; 細井, 義夫; 小松, 賢志; 田内, 広; 松本 義久; 青木 瑞穂; 矢野 安重; 酒井 一夫; 細井 義夫; 田内 広
• Publication Date: 2005-11-17
• Publication Date (W3CDTF): 2005-11-17
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 日本放射線影響学会第４８回大会
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: 高LET重イオン線は、飛跡に沿って複数のDNA切断を伴う重篤なクラスターDNA損傷(CCD)を生じる。CCD内に生じたDNA２本鎖切断(DSB)は修復困難であり、Ｘ線などの低LET放射線に比べ、高い細胞致死効果をもたらす要因と考えられている。しかしながら、DSB修復タンパク質の応答について必ずしも明...