第36回原子衝突若手の会 秋の学校ポスター発表

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 第36回原子衝突若手の会 秋の学校ポスター発表
• 著者・編者: 松山, 嗣史; 吉井, 裕; 伊豆本, 幸恵; 濱野, 毅; 酒井, 康弘; 栗原, 治; 藤林, 康久; 松山 嗣史; 吉井 裕; 伊豆本 幸恵; 濱野 毅; 栗原 治; 藤林 康久
• 著者標目: 松山, 嗣史; 吉井, 裕; 伊豆本, 幸恵; 濱野, 毅; 酒井, 康弘; 栗原, 治; 藤林, 康久; 松山 嗣史; 吉井 裕; 伊豆本 幸恵; 濱野 毅; 栗原 治; 藤林 康久
• 出版年月日等: 2015-11-01
• 出版年（W3CDTF）: 2015-11-01
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 第36回原子衝突若手の会 秋の学校ポスター発表
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• 要約等: X線の物質に対する屈折率は1よりわずかに小さい [1]ので、きわめて低い視斜角（90°-入射角）でX線を物質に入射すると全反射する。全反射蛍光X線分析装置はこのX線の全反射特性を利用し、水溶液中の微量元素分析を行うことができる [2]もので、近年注目を集めている。この装置では基盤に滴下・乾燥させた試...