第36回原子衝突若手の会 秋の学校ポスター発表

• Material Type: 文書・図像類
• Title: 第36回原子衝突若手の会 秋の学校ポスター発表
• Author/Editor: 松山, 嗣史; 吉井, 裕; 伊豆本, 幸恵; 濱野, 毅; 酒井, 康弘; 栗原, 治; 藤林, 康久; 松山 嗣史; 吉井 裕; 伊豆本 幸恵; 濱野 毅; 栗原 治; 藤林 康久
• Author Heading: 松山, 嗣史; 吉井, 裕; 伊豆本, 幸恵; 濱野, 毅; 酒井, 康弘; 栗原, 治; 藤林, 康久; 松山 嗣史; 吉井 裕; 伊豆本 幸恵; 濱野 毅; 栗原 治; 藤林 康久
• Publication Date: 2015-11-01
• Publication Date (W3CDTF): 2015-11-01
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 第36回原子衝突若手の会 秋の学校ポスター発表
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: X線の物質に対する屈折率は1よりわずかに小さい [1]ので、きわめて低い視斜角（90°-入射角）でX線を物質に入射すると全反射する。全反射蛍光X線分析装置はこのX線の全反射特性を利用し、水溶液中の微量元素分析を行うことができる [2]もので、近年注目を集めている。この装置では基盤に滴下・乾燥させた試...