ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発
• 著者・編者: 小池, 雅人; 羽多野, 忠; 寺内, 正己; 高橋, 秀之; 村野, 孝訓; 高倉, 優; 長野, 哲也; 笹井, 浩行; 西原, 弘晃; Koike, Masato
• 著者標目: 小池, 雅人; 羽多野, 忠; 寺内, 正己; 高橋, 秀之; 村野, 孝訓; 高倉, 優; 長野, 哲也; 笹井, 浩行; 西原, 弘晃; Koike, Masato
• 出版年月日等: 2019-11-08
• 出版年（W3CDTF）: 2019-11-08
• 本文の言語コード: jpn
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 応用物理学会関西支部2019年度第2回講演会
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• 要約等: ボロン（B、ホウ素）の軟X線発光を用いた状態分析は、自動車用高機能鋼材及びBWR・PWR原子炉材分析、農産物と土壌の分析、さらに半導体のドーパント分析、スピントロニクス・超電導材料開発などの分野で最近富に利用が拡大しているが、微量分析の目的には更なる分析強度の向上が望まれている。このため、表面物質が...