ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発

• Material Type: 文書・図像類
• Title: ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発
• Author/Editor: 小池, 雅人; 羽多野, 忠; 寺内, 正己; 高橋, 秀之; 村野, 孝訓; 高倉, 優; 長野, 哲也; 笹井, 浩行; 西原, 弘晃; Koike, Masato
• Author Heading: 小池, 雅人; 羽多野, 忠; 寺内, 正己; 高橋, 秀之; 村野, 孝訓; 高倉, 優; 長野, 哲也; 笹井, 浩行; 西原, 弘晃; Koike, Masato
• Publication Date: 2019-11-08
• Publication Date (W3CDTF): 2019-11-08
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 応用物理学会関西支部2019年度第2回講演会
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: ボロン（B、ホウ素）の軟X線発光を用いた状態分析は、自動車用高機能鋼材及びBWR・PWR原子炉材分析、農産物と土壌の分析、さらに半導体のドーパント分析、スピントロニクス・超電導材料開発などの分野で最近富に利用が拡大しているが、微量分析の目的には更なる分析強度の向上が望まれている。このため、表面物質が...