Characteristic Charge Collection Mechanism Observed in FinFET SRAM cells

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資料種別: 文書・図像類
タイトル: Characteristic Charge Collection Mechanism Observed in FinFET SRAM cells
著者・編者: Takeuchi, Kozo
Sakamoto, Keita
Yukumatsu, Kazuki
Watanabe, Kyota
Tsuchiya, Yuta
Kato, Takashi
Matsuyama, Hideya
Akinori, Takeyama
Takeshi, Ohshima
Kuboyama, Satoshi
Shindo, Hiroyuki
著者標目: Takeuchi, Kozo
Sakamoto, Keita
Yukumatsu, Kazuki
Watanabe, Kyota
Tsuchiya, Yuta
Kato, Takashi
Matsuyama, Hideya
Akinori, Takeyama
Takeshi, Ohshima
Kuboyama, Satoshi
Shindo, Hiroyuki
Akinori, Takeyama
Takeshi, Ohshima
出版年月日等: 2020-10-19
出版年（W3CDTF）: 2020-10-19
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
一般注記: Radiation Effects on Components and Systems (RADECS2020)
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構学術機関リポジトリ