Reducibility of sequential test generation to combinational test generation for several delay fault models

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: Reducibility of sequential test generation to combinational test generation for several delay fault models
• 著者・編者: Iwagaki, Tsuyoshi; Ohtake, Satoshi; Fujiwara, Hideo
• 著者標目: Iwagaki, Tsuyoshi; Ohtake, Satoshi; Fujiwara, Hideo
• 出版事項: Nara Institute of Science and Technology
• 出版年月日等: 2003-09
• 出版年（W3CDTF）: 2003-09
• タイトル（掲載誌）: Information Science Technical Report
• 巻号年月日等（掲載誌）: TR2003009
• 掲載号: TR2003009
• ISSN（掲載誌）: ISSN : 0919-9527
• 本文の言語コード: eng
• 対象利用者: 一般
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• 一次資料へのリンクURL: fulltext （fulltext）; https://naist.repo.nii.ac.jp/record/8824/files/R002725.pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 掲載誌: URI; http://isw3.naist.jp/IS/TechReport/
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 奈良先端科学技術大学院大学 : 奈良先端科学技術大学院大学学術リポジトリnaistar

• 要約等: This paper presents a new structure, called discontinuous reconvergence structure (DR-structure), of sequential circuits with easy testability for del...