単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計
デジタルデータあり（奈良先端科学技術大学院大学学術リポジトリnaistar）
すぐに読む
学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
書店で探す
全国の図書館の所蔵
国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。
所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください
その他
奈良先端科学技術大学院大学学術リポジトリnaistar
デジタル連携先のサイトで、学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）が連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。奈良先端科学技術大学院大学学術リポジトリnaistarのサイトで この本を確認
書店で探す
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 文書・図像類
- タイトルよみ
- タンイツ タンシ ヘンカ チエン テスト ニ モトズク データ パス ノ テスト ヨウイカ セッケイ
- 著者・編者
- 吉川, 祐樹大竹, 哲史井上, 美智子藤原, 秀雄
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2005-01
- 出版年（W3CDTF）
- 2005-01
- 並列タイトル等
- Design for testability based on single-port-change delay fault testing for data paths
- タイトル（掲載誌）
- Information Science Technical Report