単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 文書・図像類
- Title Transcription
- タンイツ タンシ ヘンカ チエン テスト ニ モトズク データ パス ノ テスト ヨウイカ セッケイ
- Author/Editor
- 吉川, 祐樹大竹, 哲史井上, 美智子藤原, 秀雄
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2005-01
- Publication Date (W3CDTF)
- 2005-01
- Alternative Title
- Design for testability based on single-port-change delay fault testing for data paths
- Periodical title
- Information Science Technical Report