固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
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書誌情報
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- 資料種別
- 文書・図像類
- タイトルよみ
- コテイ セイギョ カケンサセイ ニ モトズク RTL カイロ ノ ヒスキャンテスト ヨウイカ セッケイ ホウ
- 著者・編者
- 永井, 慎太郎和田, 弘樹大竹, 哲史藤原, 秀雄
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2002-02
- 出版年（W3CDTF）
- 2002-02
- 並列タイトル等
- A non-scan DFT mathod for RTL circuits based on fixed-control testability
- タイトル（掲載誌）
- Information Science Technical Report