固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法

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Summary, etc.：: 本論文では，階層テスト生成が容易なデータパスの性質として固定制御可検査性を新しく定義し，それに基づくレジスタ転送レベル回路のテスト容易化設計法を提案する．提案手法では，組合せテスト生成法を用いた階層テスト生成および非スキャン設計に基づいているため，テスト生成時間およびテスト実行時間を完全スキャン設計...

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Material Type: 文書・図像類
Title: 固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
Title Transcription: コテイセイギョカケンサセイニモトズク RTL カイロノヒスキャンテストヨウイカセッケイホウ
Author/Editor: 永井, 慎太郎
和田, 弘樹
大竹, 哲史
藤原, 秀雄
Author Heading: 永井, 慎太郎
和田, 弘樹
大竹, 哲史
藤原, 秀雄
Publication, Distribution, etc.: 奈良先端科学技術大学院大学
Publication Date: 2002-02
Publication Date (W3CDTF): 2002-02
Alternative Title: A non-scan DFT mathod for RTL circuits based on fixed-control testability
Periodical title: Information Science Technical Report
No. or year of volume/issue: TR2002002
Issue: TR2002002
ISSN (Periodical Title): ISSN : 0919-9527
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Access Restrictions: インターネット公開
Periodical Title (URI): URI
http://isw3.naist.jp/IS/TechReport/
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 奈良先端科学技術大学院大学 : 奈良先端科学技術大学院大学学術リポジトリnaistar