走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・ディジタル演算処理

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: 走査透過電子顕微鏡における弾性・非弾性散乱信号のオンライン・ディジタル演算処理
• 著者・編者: 日比野, 倫夫; 下山, 宏; 杉山, せつ子; 花井, 孝明
• 著者標目: 日比野, 倫夫; 下山, 宏; 杉山, せつ子; 花井, 孝明
• 出版年月日等: 1990-03
• 出版年（W3CDTF）: 1990-03
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 走査透過電子顕微鏡; 非弾性散乱電子; 特殊コントラスト; 電子信号間演算; 弾性散乱電子; ノイズ除去; ディジタル処理システム; Specific contrast; Digital processing system; Noise elimination; Inelastically scattered electron; SN比; 非弾性散乱; 量子検出効率; Electron signal manipulation; デコンボリュ-ション処理; 弾性散乱; Elastically scattered electron; Scanning transmission electron microscopy
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 科学研究費補助金 研究種目:試験研究 課題番号:63850078 研究代表者:日比野 倫夫 研究期間:1988-1989年度
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• 一次資料へのリンクURL: 63850078.pdf （fulltext）; https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/11092/files/63850078.pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 名古屋大学 : 名古屋大学学術機関リポジトリ

• 要約等: 1.電子検出法の改善 STEM(走査透過電子顕微鏡)における電子検出器として従来使われているP46粉末蛍光体について、100kVの加速圧電圧において最高感度を与える厚さを調べた結果、0.07mm厚さの蛍光体が最適であり、高いDQEが得られることを示した。また、1mm厚さのYAG単結晶を使用すれば、約...