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文書・図像類

ソフトエラーに起因するパルスのラッチ確率のモデル化

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ソフトエラーに起因するパルスのラッチ確率のモデル化

資料種別
文書・図像類
著者
平田, 元春ほか
出版者
電子情報通信学会
出版年
2010-09
資料形態
デジタル
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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関連資料・改題前後資料

電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 || 2010 || p83-88

http://www.slrc.kyushu-u.ac.jp/index-j.html

資料詳細

要約等:

LSI(Large Scale Integrated Circuit) の信頼性を低下させる要因の一つとして,放射性粒子により回路素子の出力の反転が引き起こされるソフトエラーと呼ばれる現象が挙げられる.設計された回路が所望のソフトエラー耐性を持つか判断するため,設計者は回路のソフトエラー耐性を評価す...

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書誌情報

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デジタル

資料種別
文書・図像類
著者・編者
平田, 元春
吉村, 正義
松永, 裕介
著者標目
平田, 元春 ヒラタ, モトハル
吉村, 正義 ヨシムラ, マサヨシ
松永, 裕介 マツナガ, ユウスケ
出版年月日等
2010-09
出版年(W3CDTF)
2010-09
並列タイトル等
Modeling of Latching Probability of Soft-Error-Induced Pulse
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告. 2010-VLD-56
掲載ページ
83-88