ソフトエラーに起因するパルスのラッチ確率のモデル化

Related materials as well as pre- and post-revision versions

電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 || 2010 || p83-88

http://www.slrc.kyushu-u.ac.jp/index-j.html

Detailed bibliographic record

Summary, etc.：: LSI(Large Scale Integrated Circuit) の信頼性を低下させる要因の一つとして，放射性粒子により回路素子の出力の反転が引き起こされるソフトエラーと呼ばれる現象が挙げられる．設計された回路が所望のソフトエラー耐性を持つか判断するため，設計者は回路のソフトエラー耐性を評価す...

Search by Bookstore

This page shows libraries in Japan other than the National Diet Library that hold the material.

Please contact your local library for information on how to use materials or whether it is possible to request materials from the holding libraries.

other

Kyushu University Institutional Repository
Digital
You can check the holdings of institutions and databases with which Institutional Repositories DataBase(IRDB)(Institutional Repository) is linked at the site of Institutional Repositories DataBase(IRDB)(Institutional Repository).
Kyushu University Institutional Repository

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 文書・図像類
Title: ソフトエラーに起因するパルスのラッチ確率のモデル化
Author/Editor: 平田, 元春
吉村, 正義
松永, 裕介
Author Heading: 平田, 元春ヒラタ, モトハル
吉村, 正義ヨシムラ, マサヨシ
松永, 裕介マツナガ, ユウスケ
Publication, Distribution, etc.: 電子情報通信学会
Publication Date: 2010-09
Publication Date (W3CDTF): 2010-09
Alternative Title: Modeling of Latching Probability of Soft-Error-Induced Pulse
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告. 2010-VLD-56
Pages: 83-88
Text Language Code: jpn
Subject Heading: LSI の信頼性低下要因
ソフトエラー率(SER) 見積もり
パルスのラッチ確率
Dependability decrease factor of LSI
SER(Soft Error Rate) estimation
latching probability of pulse
Target Audience: 一般
Access Restrictions: インターネット公開
Related Material: 電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 || 2010 || p83-88
http://www.slrc.kyushu-u.ac.jp/index-j.html
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 九州大学 : 九州大学学術情報リポジトリ