VLSI回路の高歩留り化のための誤テスト回避と高精度故障診断に関する研究

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: VLSI回路の高歩留り化のための誤テスト回避と高精度故障診断に関する研究
• 著者・編者: 大和, 勇太
• 著者標目: 大和, 勇太
• 授与機関名: 九州工業大学
• 授与年月日: 2010-03-24
• 報告番号: 甲第242号
• 学位: 博士（情報工学）
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: VLSI; テスト; 故障診断; 歩留り
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 九州工業大学博士学位論文 学位記番号: 情工博甲第242号 学位授与年月日: 平成22年3月24日; 平成21年度
• DOI: 10.18997/00003612
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• 一次資料へのリンクURL: D-71_jou_k_242.pdf （fulltext）; https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/3618/files/D-71_jou_k_242.pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 九州工業大学 : キューテイカー

目次

第1章 序論||第2章 VLSIのテストと故障診断||第3章 低消費電力テスト技術||第4章 遺伝的アルゴリズムによる低消費電力X埋込み手法の提案||第5章 X故障診断技術