VLSI回路の高歩留り化のための誤テスト回避と高精度故障診断に関する研究

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Material Type: 博士論文
Title: VLSI回路の高歩留り化のための誤テスト回避と高精度故障診断に関する研究
Author/Editor: 大和, 勇太
Author Heading: 大和, 勇太
Degree grantor/type: 九州工業大学
Date Granted: 2010-03-24
Dissertation Number: 甲第242号
Degree Type: 博士（情報工学）
Text Language Code: jpn
Subject Heading: VLSI
テスト
故障診断
歩留り
Target Audience: 一般
Note (General): 九州工業大学博士学位論文学位記番号: 情工博甲第242号学位授与年月日: 平成22年3月24日
平成21年度
DOI: 10.18997/00003612
Format (IMT): application/pdf
Source: D-71_jou_k_242.pdf （fulltext）
https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/3618/files/D-71_jou_k_242.pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 九州工業大学 : キューテイカー