Lifetime Estimation of Defective Products from the Imaginal Mixture of Defective and Non-defective Products: The Trunsored Data Model

• 資料種別: 文書・図像類
• タイトル: Lifetime Estimation of Defective Products from the Imaginal Mixture of Defective and Non-defective Products: The Trunsored Data Model
• 著者・編者: 廣瀬, 英雄
• 著者標目: 廣瀬, 英雄 ヒロセ, ヒデオ
• 出版事項: 九州工業大学
• 出版年月日等: 2000-08-02
• 出版年（W3CDTF）: 2000-08-02
• タイトル（掲載誌）: Technical Report in Computer Science and Systems Engineering
• 掲載ページ: 1-8
• ISSN（掲載誌）: PISSN : 1344-8803
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Truncated data; Censored data; Trunsored data; Imaginal mixture model; Durable population; Fragile population; Weibull distribution; Likelihood ratio test
• 対象利用者: 一般
• オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• 提供元機関・データベース: 九州工業大学 : キューテイカー

• 要約等: In solving the lifetime estimation problem of defective products using samples of size N from a mixture of defective and non-defective products, a new...