極微小電流計測型ナノプローブその場観察システムの開発

資料種別: 文書・図像類

著者: 岩田, 博之ほか

出版者: 愛知工業大学

出版年: 2007-08-31

資料形態: デジタル

ページ数・大きさ等: -

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Piezo-driving spedcimen holder for Atomic scale high-resolution electron-microscopy (TEM) was realized. Various in-situ experiments in TEM, example fo...

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書誌情報

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デジタル

資料種別: 文書・図像類
タイトル: 極微小電流計測型ナノプローブその場観察システムの開発
著者・編者: 岩田, 博之
奥田, 東
著者標目: 岩田, 博之
奥田, 東
出版事項: 愛知工業大学
出版年月日等: 2007-08-31
出版年（W3CDTF）: 2007-08-31
並列タイトル等: New In-situ Electrical-Force Characterizing System for TEM
タイトル（掲載誌）: 総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.
巻号年月日等（掲載誌）: 9
掲載巻: 9
掲載ページ: 47-52
ISSN（掲載誌）: ISSN : 1344-9672
本文の言語コード: jpn
対象利用者: 一般
一般注記: Piezo-driving spedcimen holder for Atomic scale high-resolution electron-microscopy (TEM) was realized. Various in-situ experiments in TEM, example for, strucyual variation, contact-force, contact electricalcurrent, bondig, separation were observed. The deformation process of multiwalled carbon nanotubes was directry observed using TEM. High elasticity and the subsequent damage process of the nanotube were demonstrated. In-situ Current-Voltage Characters were caliculated with several multimeters integrated with PC.
identifier:http://repository.aitech.ac.jp/dspace/handle/11133/1673
オンライン閲覧公開範囲: 限定公開
掲載誌（NCID）: AA11484797
https://ci.nii.ac.jp/ncid/AA11484797
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
提供元機関・データベース: 愛知工業大学 : 愛知工業大学学術情報リポジトリ