電子顕微鏡

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: 電子顕微鏡
• タイトルよみ: デンシ ケンビキョウ
• 巻次・部編番号: 36-36 20010000-20010000(Suppl.)
• 著者・編者: 「電子顕微鏡」編集委員会 編
• 著者標目: 日本顕微鏡学会 ニホン ケンビキョウ ガッカイ
• 出版事項: 東京 : 日本顕微鏡学会
• 出版年月日等: 2001
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 刊行巻次・年月次: 1巻1号 (1950年2月)-v. 38, no. 3 (2003)
• 大きさ: 28cm
• 並列タイトル等: Electron microscopy Electron microscopy; 日本顕微鏡学会会報 ニホン ケンビキョウ ガッカイ カイホウ
• ISSN（掲載誌）: 0417-0326
• ISSN-L（掲載誌）: 0417-0326
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN33
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; 収載: 日本顕微鏡学会会報; 刊行頻度, 出版者, 大きさの変更あり; 会員名簿, Suppl. とも
• 総目次・総索引注記: 総目次・総索引あり
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-896
• 改題前: 吸収前 : 日本電子顕微鏡学会会報; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000028069
• 改題後: 派生後 : 電子顕微鏡学会誌; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000015810; 継続後 : 顕微鏡 / 「顕微鏡」編集委員会 編 (ISSN:1349-0958); https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000004340872
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000015809; http://id.ndl.go.jp/bib/000000015809
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版

目次

日本電子顕微鏡学会第57回学術講演会発表要旨集

日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ

材料系セッション1 TEM Semiconductor--"7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ)

Atomic-scale composition analysis of semiconductor quantum dots by transmission electron microscopy (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ ; 材料系セッション1 TEM Semiconductor--"7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション)

Formation and properties of metal silicides in silicon (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ ; 材料系セッション1 TEM Semiconductor--"7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション)

Nano-analysis for Properties of nano-devices in real world (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ ; 材料系セッション1 TEM Semiconductor--"7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション)