電子顕微鏡

• Material Type: 雑誌
• ISSN: 0417-0326
• ISSN-L: 0417-0326
• Title: 電子顕微鏡
• Title Transcription: デンシ ケンビキョウ
• Volume: 36-36 20010000-20010000(Suppl.)
• Author/Editor: 「電子顕微鏡」編集委員会 編
• Author Heading: 日本顕微鏡学会 ニホン ケンビキョウ ガッカイ
• Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本顕微鏡学会
• Publication Date: 2001
• Publication Date (W3CDTF): 2001
• Year and volume of publication: 1巻1号 (1950年2月)-v. 38, no. 3 (2003)
• Size: 28cm
• Alternative Title: Electron microscopy Electron microscopy; 日本顕微鏡学会会報 ニホン ケンビキョウ ガッカイ カイホウ
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: ZN33
• Note (General): 本タイトル等は最新号による; 収載: 日本顕微鏡学会会報; 刊行頻度, 出版者, 大きさの変更あり; 会員名簿, Suppl. とも
• Note (Cumulative Index): 総目次・総索引あり
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Z16-896
• Replaces: 吸収前; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000028069
• Continues: 派生後 : 電子顕微鏡学会誌; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000015810; 継続後 : 顕微鏡 / 「顕微鏡」編集委員会 編 (ISSN:1349-0958); https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000004340872
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000015809; http://id.ndl.go.jp/bib/000000015809
• National Bibliography No. (JPNO): 00015913
• Cataloging Rule: Nippon Cataloguing Rules 1987 Revised Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 131

Table of Contents

日本電子顕微鏡学会第57回学術講演会発表要旨集

日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ

材料系セッション1 TEM Semiconductor--"7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ)

Atomic-scale composition analysis of semiconductor quantum dots by transmission electron microscopy (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ ; 材料系セッション1 TEM Semiconductor--"7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション)

Formation and properties of metal silicides in silicon (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ ; 材料系セッション1 TEM Semiconductor--"7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション)

Nano-analysis for Properties of nano-devices in real world (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ ; 材料系セッション1 TEM Semiconductor--"7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション)