Journal of surface analysis

• 資料種別: 雑誌
• ISSN: 1341-1756
• ISSN-L: 1341-1756
• タイトル: Journal of surface analysis
• タイトルよみ: Journal of surface analysis
• 巻次・部編番号: 17(3) 2011.3
• 著者・編者: 表面分析研究会 編
• 著者標目: 表面分析研究会 ヒョウメン ブンセキ ケンキュウカイ ( 00284187 )典拠
• 出版事項: 東京 : 表面分析研究会
• 出版年月日等: 2011
• 出版年（W3CDTF）: 2011
• 出版表示等に関する注記: 出版地の変更あり
• 刊行巻次・年月次: v. 1, no. 1 (Mar. 1995)-
• 大きさ: 30cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZM35
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; 英文併載
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z15-B66
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000095170; http://id.ndl.go.jp/bib/000000095170
• 全国書誌番号: 00100920
• 目録規則: 国立国会図書館逐次刊行物目録規則
• 整理区分コード: 131

目次

Proceedings of the 5th international symposium on practical surface analysis, PSA-10 and 7th Korea-Japan international symposium on surface analysis

Invited, review: 45 years in Monte Carlo simulation for microbeam analysis: a personal retrospective review (Proceedings of the 5th international symposium on practical surface analysis, PSA-10 and 7th Korea-Japan international symposium on surface analysis)

Invited paper: Surface characterization of nanoparticles: critical needs and significant challenges (Proceedings of the 5th international symposium on practical surface analysis, PSA-10 and 7th Korea-Japan international symposium on surface analysis)

Invited, review: Surface sensitivity of Auger-electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy (Proceedings of the 5th international symposium on practical surface analysis, PSA-10 and 7th Korea-Japan international symposium on surface analysis)

Invited, review: Uncertainty in quantification of binary alloy films and thickness measurement of nm oxide films (Proceedings of the 5th international symposium on practical surface analysis, PSA-10 and 7th Korea-Japan international symposium on surface analysis)