Sony Corporation Research Center Reports11;1972

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: Sony Corporation Research Center Reports
• 巻次・部編番号: 11;1972
• 出版事項: Yokohama : Sony Corp. Research Center
• 出版年月日等: [1972]
• 出版年（W3CDTF）: 1972
• 刊行巻次・年月次: 8:1969 - 14:1975
• 大きさ: 26 cm
• ISSN（掲載誌）: 0388-0893
• ISSN-L（掲載誌）: 0388-0893
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng; jpn
• NDLC: ZN33
• 一般注記: Description based on the latest issue
• 改題等に関する注記: 継続前誌: Sony Research Laboratory Scientific Reports
• DOI: 10.11501/11028196; https://doi.org/10.11501/11028196
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11028196; https://dl.ndl.go.jp/pid/11028196
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• 製作者: 国立国会図書館
• 製作年（W3CDTF）: 2018-03-09
• 受理日（W3CDTF）: 2018-01-15T18:33:35+09:00
• 記録形式（IMT）: image/jp2
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵巻次・年月次（所蔵事項）: 8:1969 - 14:1975
• 請求記号: Z53-M448
• 原資料（JPNO）: 10019578
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11028936; https://dl.ndl.go.jp/pid/11028936
• 改題後（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11028960; https://dl.ndl.go.jp/pid/11028960
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

目次

CONTENTS/

PART 1 FULL PAPERS//～37

X-Ray Study of Small Dislocation Loops in Thermaly Oxidized Silicon J. Appl. of Crystallography, Vol. 5, Part 4, pp281-285/Seiji KAWADO ; Toshiyuki MARUYAMA/～285

Knoop Hardness of Phosphorus-Diffused Silicon Single Crystals Japan. J. Appl. Phys. Vol. 11, pp1389-1390/Yoshinori HAYAFUJI ; Seiji KAWADO ; Zensho ISHII/1389～1390

X-Ray Topographic Images of Dislocation Loops in Thin Silicon Crystals Acta Cryst. A28 (1972) S221/Seiji KAWADO ; Toshiyuki MARUYAMA ; Zensho ISHII