白色X線による残留応力測定法に関する研究

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: 白色X線による残留応力測定法に関する研究
• タイトルよみ: ハクショク Xセン ニ ヨル ザンリュウ オウリョク ソクテイホウ ニ カンスル ケンキュウ
• 著者・編者: 柴野純一 [著]
• 著者標目: 柴野, 純一 シバノ, ジュンイチ
• 授与機関名: 北海道大学
• 授与年月日: 平成8年12月25日
• 授与年月日（W3CDTF）: 1996
• 報告番号: 乙第5083号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-97-A100
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000304785; http://id.ndl.go.jp/bib/000000304785
• 整理区分コード: 213

目次

目次

第1章 序論

1.1 緒言

1.2 X線の性質

1.3 特性X線による応力測定の基礎