白色X線による残留応力測定法に関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: 白色X線による残留応力測定法に関する研究
• Title Transcription: ハクショク Xセン ニ ヨル ザンリュウ オウリョク ソクテイホウ ニ カンスル ケンキュウ
• Author/Editor: 柴野純一 [著]
• Author Heading: 柴野, 純一 シバノ, ジュンイチ
• Degree grantor/type: 北海道大学
• Date Granted: 平成8年12月25日
• Date Granted (W3CDTF): 1996
• Dissertation Number: 乙第5083号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-97-A100
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000304785; http://id.ndl.go.jp/bib/000000304785
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

目次

第1章 序論

1.1 緒言

1.2 X線の性質

1.3 特性X線による応力測定の基礎