True atomic resolution imaging by monoatomic force interaction in an atomic force microscope

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: True atomic resolution imaging by monoatomic force interaction in an atomic force microscope
• 著者・編者: 大田昌弘 [著]
• 著者標目: 大田, 昌弘 オオタ, マサヒロ
• 並列タイトル等: 原子間力顕微鏡による単原子観察条件の研究 ゲンシカンリョク ケンビキョウ ニ ヨル タンゲンシ カンサツ ジョウケン ノ ケンキュウ
• 授与機関名: 広島大学
• 授与年月日: 平成8年3月6日
• 授与年月日（W3CDTF）: 1996
• 報告番号: 甲第1419号
• 学位: 博士 (理学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-97-A255
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000304940; http://id.ndl.go.jp/bib/000000304940
• 整理区分コード: 213

目次

Abstract

Contents

1.Introduction

2.Ultrahigh vacuum atomic force microscope with sample cleaving mechanism

2-1.Principles of an atomic force microscope