True atomic resolution imaging by monoatomic force interaction in an atomic force microscope

• Material Type: 博士論文
• Title: True atomic resolution imaging by monoatomic force interaction in an atomic force microscope
• Author/Editor: 大田昌弘 [著]
• Author Heading: 大田, 昌弘 オオタ, マサヒロ
• Alternative Title: 原子間力顕微鏡による単原子観察条件の研究 ゲンシカンリョク ケンビキョウ ニ ヨル タンゲンシ カンサツ ジョウケン ノ ケンキュウ
• Degree grantor/type: 広島大学
• Date Granted: 平成8年3月6日
• Date Granted (W3CDTF): 1996
• Dissertation Number: 甲第1419号
• Degree Type: 博士 (理学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-97-A255
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000304940; http://id.ndl.go.jp/bib/000000304940
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

Abstract

Contents

1.Introduction

2.Ultrahigh vacuum atomic force microscope with sample cleaving mechanism

2-1.Principles of an atomic force microscope