電子回折及びX線分光によるSi(111)面上での金属の成長モードと構造安全性の研究
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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
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p1
1 序章
p3
1.1 本研究の背景
p3
1.2 RHEED-TRAXS法の研究の歴史
p5
1.3 本研究の目的
p7
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- タイトルよみ
- デンシ カイセツ オヨビ Xセン ブンコウ ニ ヨル Si(111) メンジョウ デ ノ キンゾク ノ セイチョウ モード ト コウゾウ アンゼンセイ ノ ケンキュウ
- 著者・編者
- 金田修明 [著]
- 著者標目
- 金田, 修明 カネダ, ナオアキ
- 授与機関名
- 東京大学
- 授与年月日
- 平成8年3月29日
- 授与年月日（W3CDTF）
- 1996
- 報告番号
- 甲第11629号
- 学位
- 博士 (理学)