電子回折及びX線分光によるSi(111)面上での金属の成長モードと構造安全性の研究

• Material Type: 博士論文
• Title: 電子回折及びX線分光によるSi(111)面上での金属の成長モードと構造安全性の研究
• Title Transcription: デンシ カイセツ オヨビ Xセン ブンコウ ニ ヨル Si(111) メンジョウ デ ノ キンゾク ノ セイチョウ モード ト コウゾウ アンゼンセイ ノ ケンキュウ
• Author/Editor: 金田修明 [著]
• Author Heading: 金田, 修明 カネダ, ナオアキ
• Degree Grantor: 東京大学
• Date Granted: 平成8年3月29日
• Date Granted (W3CDTF): 1996
• Dissertation Number: 甲第11629号
• Degree Type: 博士 (理学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-97-Q190
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000312359; http://id.ndl.go.jp/bib/000000312359
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

目次

1 序章

1.1 本研究の背景

1.2 RHEED-TRAXS法の研究の歴史

1.3 本研究の目的