博士論文

高温超微小押込試験とSiliconの圧痕形成機構

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高温超微小押込試験とSiliconの圧痕形成機構

国立国会図書館請求記号
UT51-98-Q96
国立国会図書館書誌ID
000000324916
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/3139724
資料種別
博士論文
著者
大村孝仁 [著]
出版者
-
出版年
-
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
東京大学,博士 (工学)
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目次

  • 本論文の要旨

  • 目次

  • 第1章 序論

    p1

  • 1-1 硬さと降伏応力/引張強さの関係

    p1

  • 1-2 超微小押込試験の特徴と課題

    p3

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書誌情報

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デジタル

資料種別
博士論文
タイトルよみ
コウオン チョウビショウ オシコミ シケン ト Silicon ノ アツコン ケイセイ キコウ
著者・編者
大村孝仁 [著]
著者標目
大村, 孝仁 オオムラ, タカヒト
授与機関名
東京大学
授与年月日
平成8年9月30日
授与年月日(W3CDTF)
1996
報告番号
甲第12224号
学位
博士 (工学)