A study on embedded memory array testing with a scannable memory configuration

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: A study on embedded memory array testing with a scannable memory configuration
• 著者・編者: 矢野政顕 [著]
• 著者標目: 矢野, 政顕 ヤノ, セイケン
• 並列タイトル等: スキャン可能メモリ構成を用いた埋め込みメモリアレイの試験に関する研究 スキャン カノウ メモリ コウセイ オ モチイタ ウメコミ メモリ アレイ ノ シケン ニ カンスル ケンキュウ
• 授与機関名: 大阪大学
• 授与年月日: 平成10年3月25日
• 授与年月日（W3CDTF）: 1998
• 報告番号: 甲第6435号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-98-X328
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000329209; http://id.ndl.go.jp/bib/000000329209
• 整理区分コード: 213

目次

Contents

Summary

Contents

1 Introduction

1.1 Backgrounds