A study on embedded memory array testing with a scannable memory configuration

• Material Type: 博士論文
• Title: A study on embedded memory array testing with a scannable memory configuration
• Author/Editor: 矢野政顕 [著]
• Author Heading: 矢野, 政顕 ヤノ, セイケン
• Alternative Title: スキャン可能メモリ構成を用いた埋め込みメモリアレイの試験に関する研究 スキャン カノウ メモリ コウセイ オ モチイタ ウメコミ メモリ アレイ ノ シケン ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 大阪大学
• Date Granted: 平成10年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 1998
• Dissertation Number: 甲第6435号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-98-X328
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000329209; http://id.ndl.go.jp/bib/000000329209
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

Contents

Summary

Contents

1 Introduction

1.1 Backgrounds