博士論文

Studies on oxide/semiconductor interfaces for metal-oxide-semiconductor (MOS) structure by means of photoelectron spectroscopy

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Studies on oxide/semiconductor interfaces for metal-oxide-semiconductor (MOS) structure by means of photoelectron spectroscopy

国立国会図書館請求記号
UT51-99-R442
国立国会図書館書誌ID
000000340685
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/3155495
資料種別
博士論文
著者
久保田智広 [著]
出版者
-
出版年
-
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
大阪大学,博士 (理学)
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目次

  • Contents

    p1

  • Chapter1 General Introduction

    p3

  • Chapter2 New method for determination of energy distribution of interface states in the semi-conductor band-gap:”XPS measurements under bias”

    p9

  • Chapter3 Energy distribution of interface states in the GaAs band-gap and a decrease in the interface state density

    p19

  • Chapter4 First principle theoretical calculation of interface states at Si/silicon oxide interfaces

    p31

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書誌情報

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デジタル

資料種別
博士論文
著者・編者
久保田智広 [著]
著者標目
久保田, 智広 クボタ, トモヒロ
並列タイトル等
光電子分光法を用いた金属-酸化物-半導体(MOS)構造の酸化物/半導体界面の研究 コウデンシ ブンコウホウ オ モチイタ キンゾク - サンカブツ - ハンドウタイ (MOS) コウゾウ ノ サンカブツ
授与機関名
大阪大学
授与年月日
平成11年3月25日
授与年月日(W3CDTF)
1999
報告番号
甲第7012号
学位
博士 (理学)