データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究
• タイトルよみ: データパス ノ キョウ カケンサセイ ニ モトズク テスト ヨウイカ セッケイ ナラビニ テスト ヨウイカ コウイ ゴウセイ ニ カンスル ケンキュウ
• 著者・編者: 和田弘樹 [著]
• 著者標目: 和田, 弘樹 ワダ, ヒロキ
• 出版事項: [和田弘樹]
• 出版年月日等: 2001
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 数量: 1冊
• 授与機関名: 奈良先端科学技術大学院大学
• 授与年月日: 平成13年3月23日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2001
• 報告番号: 甲第173号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2001-J85
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000404214; http://id.ndl.go.jp/bib/000000404214
• 整理区分コード: 213

目次

Abstract

目次

第1章 序論

第2章 テスト容易化設計法

2.1.まえがき