データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究
• Title Transcription: データパス ノ キョウ カケンサセイ ニ モトズク テスト ヨウイカ セッケイ ナラビニ テスト ヨウイカ コウイ ゴウセイ ニ カンスル ケンキュウ
• Author/Editor: 和田弘樹 [著]
• Author Heading: 和田, 弘樹 ワダ, ヒロキ
• Publication, Distribution, etc.: [和田弘樹]
• Publication Date: 2001
• Publication Date (W3CDTF): 2001
• Extent: 1冊
• Degree grantor/type: 奈良先端科学技術大学院大学
• Date Granted: 平成13年3月23日
• Date Granted (W3CDTF): 2001
• Dissertation Number: 甲第173号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2001-J85
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000404214; http://id.ndl.go.jp/bib/000000404214
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

Abstract

目次

第1章 序論

第2章 テスト容易化設計法

2.1.まえがき