X線光電子分光法と飛行時間型二次イオン質量分析法の高度化および機能材料評価に関する研究

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: X線光電子分光法と飛行時間型二次イオン質量分析法の高度化および機能材料評価に関する研究
• タイトルよみ: Xセン コウデンシ ブンコウホウ ト ヒコウ ジカンガタ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ コウドカ オヨビ キノウ ザイリョウ ヒョウカ ニ カンスル ケンキュウ
• 著者・編者: 田中浩三 [著]
• 著者標目: 田中, 浩三 タナカ, コウゾウ
• 出版事項: [田中浩三]
• 出版年月日等: 2001
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 数量: 1冊
• 授与機関名: 東北大学
• 授与年月日: 平成13年3月7日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2001
• 報告番号: 乙第8003号
• 学位: 博士 (理学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2001-N939
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000409725; http://id.ndl.go.jp/bib/000000409725
• 整理区分コード: 213

目次

目次

第1章 序論

1-1 表面分析法の概要と課題

1-2 XPSにおける試料帯電現象

1-3 本研究の目的