X線光電子分光法と飛行時間型二次イオン質量分析法の高度化および機能材料評価に関する研究

• Material Type: 博士論文
• Title: X線光電子分光法と飛行時間型二次イオン質量分析法の高度化および機能材料評価に関する研究
• Title Transcription: Xセン コウデンシ ブンコウホウ ト ヒコウ ジカンガタ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ コウドカ オヨビ キノウ ザイリョウ ヒョウカ ニ カンスル ケンキュウ
• Author/Editor: 田中浩三 [著]
• Author Heading: 田中, 浩三 タナカ, コウゾウ
• Publication, Distribution, etc.: [田中浩三]
• Publication Date: 2001
• Publication Date (W3CDTF): 2001
• Extent: 1冊
• Degree grantor/type: 東北大学
• Date Granted: 平成13年3月7日
• Date Granted (W3CDTF): 2001
• Dissertation Number: 乙第8003号
• Degree Type: 博士 (理学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2001-N939
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000000409725; http://id.ndl.go.jp/bib/000000409725
• Bibliographic Record Category (NDL): 213

Table of Contents

目次

第1章 序論

1-1 表面分析法の概要と課題

1-2 XPSにおける試料帯電現象

1-3 本研究の目的