IEC試験方法による試験技術の確立に関する試験研究成果報告書 昭和56年度 (電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン)
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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- タイトルよみ
- アイイーシー シケン ホウホウ ニ ヨル シケン ギジュツ ノ カクリツ ニ カンスル シケン ケンキュウ セイカ ホウコクショ
- 巻次・部編番号
- 昭和56年度 (電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン)
- 著者標目
- 日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )典拠
- 出版年月日等
- 1982.3
- 出版年（W3CDTF）
- 1982
- 数量
- 90p
- 大きさ
- 26cm