IEC試験方法による試験技術の確立に関する試験研究成果報告書昭和56年度 (電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン)

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IEC試験方法による試験技術の確立に関する試験研究成果報告書. 昭和56年度 (電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン)

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Material Type: 図書
Title: IEC試験方法による試験技術の確立に関する試験研究成果報告書
Title Transcription: アイイーシーシケンホウホウニヨルシケンギジュツノカクリツニカンスルシケンケンキュウセイカホウコクショ
Volume: 昭和56年度 (電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン)
Author Heading: 日本電子部品信頼性センターニホンデンシブヒンシンライセイセンター ( 00293467 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本電子部品信頼性センター
Publication Date: 1982.3
Publication Date (W3CDTF): 1982
Extent: 90p
Size: 26cm
Alternative Title: 電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 電子部品デンシブヒン ( 00561429 )Authorities
耐火試験タイカシケン ( 00572534 )Authorities
NDC 8th ed.: 549
NDLC: ND354
Target Audience: 一般
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: ND354-44
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000001723284
http://id.ndl.go.jp/bib/000001723284
National Bibliography No. (JPNO): 85027414
Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111