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インターネプコン/エレクトロテスト/コネクタジャパン : セミナーテキスト 1995 注目技術

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インターネプコン/エレクトロテスト/コネクタジャパン : セミナーテキスト. 1995 注目技術

国立国会図書館請求記号
ND351-E82
国立国会図書館書誌ID
000002401592
資料種別
図書
著者
工業調査会, リードエグジビションジャパン 編
出版者
工業調査会
出版年
[1995]
資料形態
ページ数・大きさ等
3冊 ; 26cm
NDC
549
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資料に関する注記

一般注記:

書名は奥付による共同刊行: リードエグジビションジャパン

資料詳細

内容細目:

1 COB/MCMで活発化する新ベアチップ実装方式と信頼性 2 BGA実装技術 3 MCM実装の高信頼性化,低コスト化を考える(提供元: 国立国会図書館蔵書)

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
インターネプコン エレクトロテスト コネクタ ジャパン
巻次・部編番号
1995 注目技術
著者・編者
工業調査会, リードエグジビションジャパン 編
著者標目
工業調査会 コウギョウ チョウサカイ ( 00288100 )典拠
リードエグジビションジャパン株式会社 リード エグジビション ジャパン カブシキ ガイシャ ( 00342242 )典拠
出版年月日等
[1995]
出版年(W3CDTF)
1995
数量
3冊