インターネプコン/エレクトロテスト/コネクタジャパン : セミナーテキスト 1995 注目技術

インターネプコン/エレクトロテスト/コネクタジャパン : セミナーテキスト. 1995 注目技術

Call No. (NDL): ND351-E82
Bibliographic ID of National Diet Library: 000002401592

Material type: 図書

Author: 工業調査会, リードエグジビションジャパン編

Publisher: 工業調査会

Publication date: [1995]

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 3冊 ; 26cm

NDC: 549

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Notes on use

Note (General)：: 書名は奥付による共同刊行: リードエグジビションジャパン

Detailed bibliographic record

Contents：: 1 COB/MCMで活発化する新ベアチップ実装方式と信頼性 2 BGA実装技術 3 MCM実装の高信頼性化,低コスト化を考える(Provided by: 国立国会図書館蔵書)

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Paper

Material Type: 図書
Title: インターネプコン/エレクトロテスト/コネクタジャパン : セミナーテキスト
Title Transcription: インターネプコンエレクトロテストコネクタジャパン
Volume: 1995 注目技術
Author/Editor: 工業調査会, リードエグジビションジャパン編
Author Heading: 工業調査会コウギョウチョウサカイ ( 00288100 )Authorities
リードエグジビションジャパン株式会社リードエグジビションジャパンカブシキガイシャ ( 00342242 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: [東京] : 工業調査会
Publication Date: [1995]
Publication Date (W3CDTF): 1995
Extent: 3冊
Size: 26cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 電子工学デンシコウガク ( 00561449 )Authorities
印刷回路インサツカイロ ( 00564156 )Authorities
ハンダハンダ ( 00562908 )Authorities
NDC 8th ed.: 549
NDLC: ND351
Target Audience: 一般
Note (General): 書名は奥付による
共同刊行: リードエグジビションジャパン
Price: 非売品
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: ND351-E82
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000002401592
http://id.ndl.go.jp/bib/000002401592
National Bibliography No. (JPNO): 95047213
Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111