Proceedings : January 9-12, 1984, Anaheim Convention Center, Anaheim, CA / ATE West ; sponsored by Electronics test.

• 資料種別: 図書
• タイトル: Proceedings : January 9-12, 1984, Anaheim Convention Center, Anaheim, CA / ATE West ; sponsored by Electronics test.
• タイトル標目: Electronics test.
• 著者標目: Automated Testing for Electronics Manufacturing Conference (1984 : Anaheim, Calif.)
• 出版事項: New York : Morgan-Grampian Pub. Co.
• 出版年月日等: c1984.
• 出版年（W3CDTF）: 1984
• 数量: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: ATE West proceedings.; ATE West conference.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Automatic checkout equipment -- Congresses.
• LCC: TK7895.A8
• DDC: 681/.2
• NDLC: M15; ND
• 一般注記: Cover title: ATE West proceedings.; Spine title: ATE West conference.
• 書誌注記: Includes bibliographies.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M15-A5893
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000003112675; http://id.ndl.go.jp/bib/000003112675
• LC control number: 84138179; https://lccn.loc.gov/84138179
• 整理区分コード: 211